04-12-2020, 11:24
IMHO : Kolega z Rosji pisze o sposobie oceny strat w REZONANSIE i kwalifikowania rdzeni do takiego celu : obwodów rezonansowych. Metoda polega na tym że budujesz obwód rezonansu szeregowego L+C na docelową częstotliwość. Znaczy nawijasz parę zwojów i dołączasz kondensator szeregowo. Patrzysz na to jaka częstotliwość rezonansu ci wyszła : jak za duża to dowijasz zwój albo zwiekszasz kondensator.. I odwrotnie. Jak masz ochotę, to z tego można wyliczyć L cewki z danym kondensatorem, a dalej AL na tej częstotliwości ..
A jakość rdzenia do zastosowań rezonansowych oceniasz po tym, jaka jest pokazywana w rezonansie REZYSTANCJA Rs. Jak bliżej zera - pasuje. Jak straty w rdzeniu na tej częstotliwości są duże - to Rs będzie bliskie 50 om.
Jak widzisz, SWR tu nie jest brany pod uwagę. Bo im więcej strat tym bliższy 1. Rezystor 50 om ma swr=1,0000 , zapewne..
Do celów innych niż rezonansowe (np dławiki, mcz ) zapewne można rozważać rdzenie ze stratami na wcz - więc tych z zasilaczy impulsowych jednak nie wyrzucaj !
73, WS
A jakość rdzenia do zastosowań rezonansowych oceniasz po tym, jaka jest pokazywana w rezonansie REZYSTANCJA Rs. Jak bliżej zera - pasuje. Jak straty w rdzeniu na tej częstotliwości są duże - to Rs będzie bliskie 50 om.
Jak widzisz, SWR tu nie jest brany pod uwagę. Bo im więcej strat tym bliższy 1. Rezystor 50 om ma swr=1,0000 , zapewne..
Do celów innych niż rezonansowe (np dławiki, mcz ) zapewne można rozważać rdzenie ze stratami na wcz - więc tych z zasilaczy impulsowych jednak nie wyrzucaj !
73, WS