Jeśli mówimy o dobroci obwodu rezonansowego, często stosujemy skrót myślowy odnosząc się do dobroci obwodu nieobciążonego lub (częściej) samej cewki, zapominając, że to wypadkowa wszystkich składowych obwodu, włącznie ze stratami pola rozproszonego, wywołanych nim prądów wirowych w ekranach itd.
Metoda zaproponowana przez Adama ma jedną wadę: jest mało powtarzalna. Zmiana cewki skutkuje (w zależności od jej gabarytów) zmianą sprzężenia a tym samym obciążenia obwodu co powiększa błąd pomiaru.
Zastanawiając się jak inaczej można zmierzyć jakość obwodu z możliwie dużą powtarzalnością, chciałbym zaproponować metodę pomiaru opartą o pomiar strat (tłumienia) wnoszonego przez obwód. Nie mając dostępu do analizatora, postanowiłem "przećwiczyć" układ w symulatorze.
Rys.1 przedstawia schemat układu pomiarowego dla obwodu równoległego, Rys.2 dla obwodu szeregowego. Portem 1 w rzeczywistym układzie może być generator NWT, portem 2 - głowica pomiarowa. Zakładam dobroć cewki na częstotliwości rezonansowej Q=50 i Q=200. Różnice obrazują kolejne rysunki. Zmiana tłumienia o 3db na zboczach krzywej rezonansowej w stosunku do maksimum powinna dać szerokość pasma odniesienia do częstotliwości rezonansowej do obliczenia rzeczywistej dobroci obwodu.
Oczywiście, do pomiaru wybieramy elementy konkretnego obwodu, na rysunkach przedstawiłem przykładowe wartości.
Ciekaw jestem jak ma się ten sposób do innych metod pomiarowych i jaka jest różnica między symulatorem a rzeczywistym pomiarem.
P.S.
SQ4AVS proszę o zasymulowanie tej metody w QUCS dla porównania.
LC-równoległy.cct (Rozmiar: 10.8 KB / Pobrań: 1341)
LC-szeregowy.cct (Rozmiar: 10.7 KB / Pobrań: 1425)
